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特点
1、4个独立的源测量通道，支持并行测试；
2、蕞大支持±30V，±1A输出；
3、单通道最大3W输出/吸收功率；
4、蕞大电流电压分辨率低至10pA/100μV；
5、支持脉冲输出，脉宽低至100μs，占空比0~100%可调；
6、蕞高支持1MS/s采样率，适合高速信号采集和动态测试；
7、支持0.001~100 NPLC积分时间设置，兼顾高速及高精度测量；
8、支持连续、sweep、序列等多种工作模式；
9、支持4通道外同步触发，极性及占空比可调；
10、支持2线、4线测量，具备Guard输出保护；
11、支持标准SCPI指令集，提供完善的驱动及示例代码；
应用范围
半导体晶圆、芯片特性测试
LD激光器特性测试
太阳能电池充放电、寿命测试
传感器及材料测试
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武汉普赛斯一直专注于半导体的电性能测试仪表开发,基于核心算法和系统集成等技术平台优势,率先自主研发了高精度数字源表、脉冲式源表、脉冲恒流源、大电流脉冲电源、CS/PXIe系列插卡式源表、功率器件测试设备、半导体参数分析仪等产品,广泛应用在半导体器件材料的分析测试领域。欲了解更多普赛斯仪表产品信息，欢迎随时咨询普赛斯仪表！联系我们：
武汉普赛斯仪表有限公司 陶女士
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