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产品特点
30μV-1200V，1pA-30A宽量程测试能力
测量精度高，蕞高可达0.1%
内置标准器件测试程序，直接调用测试简便
自动实时参数提取、 数据绘图、分析函数
在CV和IV测量之间快速切换而无需重新布线
供灵活的夹具定制方案，兼容性强
免费提供上位机软件及SCPI指令集
典型应用：
纳米、柔性等材料特性分析；
二极管；
MOSFET、BJT、晶体管、IGBT；
第三代半导体材料/器件；
有机OFET器件；
LED、OLED、光电器件；
半导体电阻式等传感器；
EEL、VCSEL、PD、APD等激光二极管；
电阻率系数和霍尔效应测量；
太阳能电池；
非易失性存储设备；
失效分析；
联系我们：
武汉普赛斯仪表有限公司 陶女士
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武汉普赛斯仪表有限公司，是一家专注于半导体的电性能测试仪表的开发、生产与销售的研发型高新技术企业。公司以源表为核心产品，专注于第三代半导体测试，提供从材料、晶圆、器件的全系列解决方案。
未来，普赛斯仪表基于国产化高精度数字源表（SMU）的测试方案，以更优的测试能力、更准确的测量结果、更高的可靠性与更全面的测试能力，联合更多行业客户，共同助力我国第三代半导体行业高可靠高质量发展。
