基于S系列源表的集成电路设计教学实验平台

应用领域：

分立器件
■MOSFET/BJT静态特性参数测试实验
■MOSFET/BJT动态参数测试实验
■MOSFET开关特性测试实验
■MOSFET电容特性测试实验
■整流二极管性能测试实验
■光耦特性测试实验
■激光器LⅣ特性测试实验
■三极管放大特性测试实验
半导体材料
■材料霍尔效应测试实验
■材料电阻率测试实验
■材料漏电流测试实验
IC类
■集成基准电压源性能测试实验
■压控振荡器测试实验
■逻辑IC功能和参数测试实验
■集成运放特性参数实验
■逻辑芯片I/O口特性测试实验

平台特色：

基于高精度通用仪表的微电子综合实验平台，提供多种实验测量环境；

采用一体化设计，集成了数字源表、LCR电桥、万用表、示波器等通用仪表；

贴合集成电路测试相关实验案例，支撑集成电路相关课程资源和理论教学；

全国产化仪表，符合当前国家政策，进口仪表有禁运风险； 

搭配丰富的测试夹具及实验教材，满足基础实验教学需求；

测试器件采用STO封装，即插即用，方便更换;

测试设备简单易用，接线简单，方便学生动手操作；

以基础平台为起点，可逐步升级，满足日益增加的实验室测试需求；

辅助老师编写教案，提高教学效率，降低课程开发的难度；

联系我们：

武汉普赛斯仪表有限公司 陶女士

Web:http://wwhpssinsocom

Add:武汉市东湖新技术开发区光谷三路777号移动终端1号楼3层

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作为国内蕞早专注于数字源表(SMU)的研发与产业化、聚焦功率半导体测试解决方案的企业，普赛斯仪表在半导体测试测量领域展现出了坚实的技术底蕴与卓越的创新潜能。未来，普赛斯仪表将持续发挥技术与创新的双重优势，不断完善产品与服务，以更领先的半导体光电测试技术，为用户创造价值，赋能半导体产业的可持续发展！