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SPA6100半导体参数测试仪ivcv曲线分析仪是武汉普赛斯自主研发、精益 打造的一款半导体电学特性测试系统，具有高精度、宽测量范围、快速灵活、兼容性强等优势。产品可以同时支持DC电流-电压（I-V）、电容-电压（C-V）以及高流高压下脉冲式I-V特性的测试，旨在帮助加快前沿材料研究、半导体芯片器件设计以及先进工艺的开发，具有着越的测量效率与可靠性。基于模块化的体系结构设计，SPA6100半导体参数分析仪可以帮助用户根据测试需要，灵活选配测量单元进行升级。产品支持蕞高1200V电压、30A大电流、1pA小电流分辨率的测量，同时检测1kHz至2MHz范围内的多频AC电容测量。详询一八一四零六六三四七六
产品特点
30μV-1200V，1pA-30A宽量程测试能力
测量精度高，蕞高可达0.1%
内置标准器件测试程序，直接调用测试简便
自动实时参数提取、 数据绘图、分析函数
在CV和IV测量之间快速切换而无需重新布线
供灵活的夹具定制方案，兼容性强
免费提供上位机软件及SCPI指令集
典型应用：
纳米、柔性等材料特性分析；
二极管；
MOSFET、BJT、晶体管、IGBT；
第三代半导体材料/器件；
有机OFET器件；
LED、OLED、光电器件；
半导体电阻式等传感器；
EEL、VCSEL、PD、APD等激光二极管；
电阻率系数和霍尔效应测量；
太阳能电池；
非易失性存储设备；
失效分析；
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武汉普赛斯仪表有限公司 陶女士
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作为国内蕞早专注于数字源表(SMU)的研发与产业化、聚焦功率半导体测试解决方案的企业，普赛斯仪表在半导体测试测量领域展现出了坚实的技术底蕴与卓越的创新潜能。未来，普赛斯仪表将持续发挥技术与创新的双重优势，不断完善产品与服务，以更领先的半导体光电测试技术，为用户创造价值，赋能半导体产业的可持续发展！
